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             艾思荔檢測儀器

半導(dǎo)體芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 先進(jìn)科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角;完備的安全保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保證設(shè)備的長期可靠性.

半導(dǎo)體芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格型號：TS-80

內(nèi)箱尺寸：50*40*50cm

內(nèi)箱材質(zhì) :SUS 304# 8K鏡面不銹鋼板.

外箱材質(zhì)：特殊防銹處理之鋼板噴塑或SUS 304#紋路處理之不銹鋼.

高溫槽溫度范圍：+60 ~200℃.

低溫槽溫度范圍：A:（-55 ~ -10℃）. B:（-65 ~ -10℃）. D:（-80 ~ -10℃）.

實(shí)驗(yàn)箱沖擊溫度：高溫 60~150℃

低溫 A:（-10 ~ -40℃） B:（ -10 ~ -55℃） D:（ -10 ~ -65℃）

升溫時(shí)間：60~200℃小于35分

降溫時(shí)間：A:+20~-55℃小于75分 B:+20~-65℃小于80分 D:+20~-75℃小于90分.

半導(dǎo)體芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)： 

可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動（手動） 除霜.

產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進(jìn)、選材考究，具有簡單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。

設(shè)備分為高溫箱,低溫箱,測試箱三部分,采獨(dú)特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測物完全靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷,熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測試目的.

采用采用先進(jìn)的計(jì)測裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對話式LCD人機(jī)接口控制器,操作簡單, 學(xué)習(xí)容易, 穩(wěn)定可靠,中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。

具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定,沖擊時(shí)間999小時(shí)59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設(shè)定, 可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動運(yùn)轉(zhuǎn)，大程度上實(shí)現(xiàn)自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時(shí)間自動啟動﹑停止工作運(yùn)行；

出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測控制，風(fēng)門機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為10秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi)完成。

運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示,發(fā)生異常狀況時(shí),螢?zāi)簧霞纯套詣语@示故障點(diǎn)及原因和提供排除故障的方法,并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí),具有緊急停機(jī)裝置

冷凍系統(tǒng)采用復(fù)迭高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，冷凍機(jī)組采用歐美進(jìn)口壓縮機(jī)，并采用對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R507，R23.

箱體左側(cè)具一直徑50mm之測試孔，可供外加電源負(fù)載配線測試部件。

可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。

超強(qiáng)安全保護(hù)功能：電源過載保護(hù)、漏電保護(hù)、控制回路過載、短路保護(hù)、壓縮機(jī)保護(hù)、接地保護(hù)、超溫保護(hù)、報(bào)警聲訊提示等。

箱體內(nèi)外部材質(zhì)采用不銹鋼板（SUS#304）,外部材質(zhì)有種不同外箱材質(zhì)可供選擇：

紋路處理不銹鋼表面，如經(jīng)常順著紋路擦拭，可使機(jī)器長時(shí)間保持嶄新的外觀（推薦此種選擇）

特殊防銹處理鋼板靜電噴涂表面，質(zhì)地高（依客戶要求）

每個(gè)產(chǎn)品都根據(jù)客戶的要求訂做，保證了設(shè)備的高效節(jié)能，并在現(xiàn)場調(diào)試和驗(yàn)收，保證用戶方的使用性能。

可擴(kuò)充性“可擴(kuò)充液態(tài)氮（LN2）快速低溫沖擊控制裝置。

沖擊恢復(fù)時(shí)間：高溫（150℃）沖擊30分鐘.

低溫：（-40℃or-55℃or-65℃）沖擊30分鐘.

沖擊恢復(fù)時(shí)間：5分鐘以內(nèi).

風(fēng)門開啓時(shí)間： 3秒已內(nèi)

保溫層：PU發(fā)泡.

底座：國標(biāo)角鐵+國標(biāo)槽鋼.

半導(dǎo)體芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途： 

   半導(dǎo)體芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱又稱高低溫沖擊試驗(yàn)箱，用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精的IC到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測試工具.